专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]氢化纳米线阵列的制备方法-CN201310573301.9无效
  • 王相虎 - 上海电机学院
  • 2013-11-15 - 2014-02-05 - H01L31/20
  • 一种氢化纳米线阵列的制备方法,包括:氢化薄膜制备步骤,用于在玻璃衬底上制备氢化薄膜;氢化纳米线阵列制备步骤,用于利用化学腐蚀方法将氢化薄膜制备成氢化纳米线阵列。在氢化薄膜制备步骤中,首先对玻璃衬底进行清洗;然后将清洗过的玻璃衬底放进磁控溅射设备中,利用磁控溅射设备在玻璃衬底上面制备氢化薄膜。在氢化纳米线阵列制备步骤中,首先利用耐强酸树脂将未形成氢化薄膜的衬底背面、以及氢化薄膜周围密封,仅裸露形成有氢化薄膜的面,然后浸入H2SO4和H2O2的混合溶液中,再浸入HF溶液中去除表面氧化物
  • 氢化非晶硅纳米阵列制备方法
  • [实用新型]一种基于氧化锡前电极的薄膜电池-CN201120118803.9有效
  • 吴兴坤;李媛;曹松峰 - 杭州天裕光能科技有限公司
  • 2011-04-21 - 2011-11-30 - H01L31/0392
  • 本实用新型公开了一种基于氧化锡前电极的薄膜电池,属于薄膜电池技术领域,其是由包括氧化锡前电极薄膜的氧化锡基板、第一P型层、第二P型层、缓冲层、本征层、N型层和背电极层依次复合构成,所述的第一P型层、第二P型层、缓冲层、本征层、N型层构成发电层,所述的第一P型层采用无氢沉积,第二P型层采用有氢沉积。该结构的薄膜电池可在不改变现有的生产流程和不引进额外的生产设备的情况下对现有工艺进行调整,有利于制造时提高薄膜的沉积速度,缩短氧化锡暴露在氢等离子体中的时间,从而起到相似的保护氧化锡薄膜的作用。且该薄膜电池的功率最大能提高8W。
  • 一种基于氧化电极非晶硅薄膜电池
  • [实用新型]一种覆薄膜玻璃压合效果检测结构-CN202121059973.4有效
  • 周风龙 - 中山爱瑞科技有限公司
  • 2021-05-18 - 2021-12-07 - G01N27/04
  • 本实用新型公开了一种覆薄膜玻璃压合效果检测结构,包括有玻璃和至少一个覆薄膜玻璃顶面侧边上设有至少一个玻璃焊盘连接端,玻璃焊盘连接端上设有多条相互平行的玻璃焊盘条,其中两条玻璃焊盘条上端短接,覆薄膜上设有多条相互平行且分别与玻璃焊盘条下端压合连接的覆薄膜焊盘焊盘条,覆薄膜上设有检测孔,与短接的玻璃焊盘条连接的两条覆薄膜焊盘焊盘条下端分别与检测孔连接,通过检测两个检测孔之间的电阻值即可判断两者压合效果,实现了快速覆薄膜玻璃压合效果的快速检测。
  • 一种薄膜非晶硅玻璃效果检测结构
  • [发明专利]多晶薄膜、多晶薄膜晶体管及阵列基板的制备方法-CN201410203194.5在审
  • 刘政 - 京东方科技集团股份有限公司
  • 2014-05-14 - 2014-08-06 - H01L21/02
  • 本发明实施例提供了一种多晶薄膜、多晶薄膜晶体管及阵列基板的制备方法,涉及显示技术领域,可使多晶结晶均匀,并增大晶粒尺寸,使结晶质量提高,从而使得薄膜晶体管的电学性能得到提升。该多晶薄膜的制备方法包括:在衬底基板上形成薄膜;采用准分子激光退火方法对薄膜进行处理,使薄膜化为多晶薄膜;进一步的在形成薄膜之后,采用准分子激光退火方法对薄膜进行处理之前,所述方法还包括:对薄膜的表面进行镍盐溶液处理,使镍盐溶液均匀涂于薄膜的表面。用于需要提高多晶结晶均匀,并增大晶粒尺寸,使结晶质量提高的多晶薄膜、低温多晶薄膜晶体管及阵列基板的制备。
  • 多晶薄膜薄膜晶体管阵列制备方法
  • [发明专利]TFT背板的制作方法及TFT背板-CN201610399170.0有效
  • 周星宇 - 深圳市华星光电技术有限公司
  • 2016-06-07 - 2019-04-02 - H01L21/84
  • 本发明的TFT背板的制作方法,通过在缓冲层上制作包括含氧薄膜以及位于所述含氧薄膜上的不含氧薄膜薄膜,使得采用硼离子诱导固相化法对所述薄膜进行化处理时,由于所述薄膜与缓冲层的接触界面为含氧薄膜,而含氧薄膜在高温结晶过程中不容易产生晶核,从而使得晶核的产生仅发生在薄膜上表面的硼离子掺杂层中,并且自上而下发生结晶,晶粒质量好,薄膜均一性好,从而达到提高结晶质量及改善均一性的效果。本发明的TFT背板,制程简单,其中的多晶层的结晶质量与均一性较好,提升了TFT的性能,增强其驱动效果。
  • tft背板制作方法

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